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北京泰仕特涂层测厚仪多点校准和零校准

发布日期: 2018-03-29
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  北京泰仕特涂层测厚仪TST-EC770能无损伤、快速、精密地进行涂、镀层厚度的测量。它能广泛应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域,是材料表面处理工程必备的仪器。它可以稳定地工作于实验室、车间现场和户外。
  北京泰仕特涂层测厚仪TST-EC770能同时测量磁性基材表面(如钢、铁等)的非磁性涂镀层(如油漆、陶瓷、铬等),以及非磁性金属基材表面的非导电涂镀层(如油漆等)。本仪表内置高精密双探头,利用电磁感应和涡流效应,全自动探测基材属性,计算涂镀层厚度,并通过点阵液晶快速显示结果。同时,测量数据可分组保存,并实时显示统计值。用户可分别为每组设置上下限、零校准、多点校准。全新的多点校准和零校准,让您非常方便的随时进行校准。标准化菜单,确保您非常容易的使用它。
  北京泰仕特涂层测厚仪TST-EC770产品特点:
  大点阵液晶屏,标准化菜单操作;
  两种测量模式:单次(Single)和连续(Continuous);
  两种组模式:直接组(DIR)和通用组(GEN),一个直接组和四个通用组,每组可存储80个数据;
  可零校准和多点校准(zui多四点)。各组有单独的零校准和多点校准,组与组之间不影响;
  用户可随时查看当前工作组已测得的数据,并删除指定数据或整组数据;
  实时显示当前工作组统计值:平均值(Mean),zui小值(Min),zui大值(Max),标准方差(Sdev);
  三种探头模式: 自动(Auto)、磁感应(Magnetic)和涡流(Eddy Current);
  可为各组单独设置高低限值,超限时屏幕指示灯闪烁;
  可开启或关闭自动关机功能;
  USB接口可传输通用组数据到计算机;
  泰仕特涂层测厚仪TST-EC770技术参数:
  1.       测量原理:磁感应(F探头);涡流效应(N探头);
  2.       测量范围:0~1300um;
  3.       测量精度(典型值):± (读数的3%+2um);
  4.       分辨率:0um~99um(0.1um), 100um~999um (1um), 1000um~1300um (0.01mm);
  5.       校准:零点校准,并支持zui多4点校准;
  6.       数据存储与分组:一个直接组(数据不保存)和四个通用组(数据可被保存),每组有单独的统计,有上下限设置和校准设置;
  7.       统计值:支持平均值、zui小值、zui大值和标准方差;
  8.       支持单位:um, mm, mils;
  9.       报警:可设置上下报警限,当发生报警时,液晶屏幕可显示提示;
  10.   zui小曲率半径:凸1.5mm,凹25mm;
  11.   zui小测量面积:直径6mm;
  12.   zui小基材厚度:0.5mm(F探头);0.3mm(N探头);
  13.   电脑接口:可通过USB口连接计算机上传数据;
  14.   电源:两节1.5V AAA电池;
  15.   操作温度:0~40℃;
  16.   保存温度:--20℃ to 70℃;
  17.   尺寸:110mm*53mm*24mm;
  18.   重量:92g;
  低电和错误提示;
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